El Centro Tecnológico NAITEC ha puesto en marcha un nuevo microscopio electrónico de barrido (MEB/SEM) TESCAN VEGA-4-LM, que ya está operativo en sus instalaciones de Noáin. Esta incorporación permite ofrecer análisis y estudios de alta calidad de manera más rápida, fiable y segura sobre un mayor abanico de muestras.

 

El nuevo equipo destaca por su capacidad para trabajar en atmósferas controladas hasta casi presión atmosférica, lo que le permite analizar muestras que de otra forma serían imposibles, como muestras muy porosas, muestras húmedas, muestras no conductoras (poliméricas) sin romper vacío y sin preparación previa (metalizado – ion sputtering coat).

Con esta incorporación NAITEC sigue apostando por la tecnología y la innovación para ayudar a la industria, como viene haciendo desde sus orígenes. Es de destacar que NAITEC fue la primera entidad de Navarra en ofrecer en esta comunidad los servicios de análisis con microscopio electrónico de barrido, en el año 1986.

Amplia experiencia en ensayos de materiales

La unidad de Servicios Tecnológicos de NAITEC ayuda a sus clientes a tomar decisiones bien fundamentadas sobre sus procesos de producción y sobre la elección de materiales, a través de distintos servicios de análisis y ensayo, de los que destacan:

• Caracterizaciones y observaciones de materiales metálicos: fracturas, depósitos, recubrimientos, tratamientos, microanálisis.
• Análisis de corrosión: análisis de causas, degradación en medios agresivos, progresión de corrosión…
• Análisis en materiales poliméricos: observación y progresión superficial de fracturas, fibrado, porosidades, análisis de capas de pintura…
• Estudios de desarrollo de nuevos recubrimientos y materiales de investigación.

En NAITEC la microscopía SEM es una herramienta fundamental para determinar de manera preventiva futuras causas de fallos en el comportamiento en servicio de los materiales, detectando grietas incipientes, contaminantes con efectos agresivos, o microestructuras incorrectas. Adicionalmente también es una herramienta fundamental para determinar las causas “post mortem” si han ocurrido fallos no estimados para el tiempo de vida de los materiales en condiciones de servicio.

Además NAITEC utiliza la espectroscopia de rayos X por dispersión de energía (EDS o EDX) en combinación con la microscopía SEM, para un análisis integral de la composición del material.

Al utilizar rayos X emitidos desde la muestra durante el proceso SEM, la EDS permite un microanálisis más detallado de las características observadas en el microscopio electrónico de barrido.

El nuevo SEM incorpora Alto y Bajo Vacío, de forma que muestras no conductoras (Polímero/Cerámicas) pueden ser analizadas directamente sin necesidad de convertirlas en conductoras.

¿Necesitas más información sobre los ensayos de Materiales de NAITEC?

Si estás interesado en nuestros servicios de microscopía SEM o quieres conocer cómo podemos ayudarte con tus ensayos y análisis de materiales, no dudes en ponerte en contacto con nosotros.